Inspection de surface - mesure hors ligne : Dans quel but ?
La demande croissante de production plus rapide, de dimensions réduites, d'absence de défauts et d'économies de matériaux a conduit CERSA à développer une nouvelle jauge haute performance. Notre jauge SQM-F est conçue pour détecter les défauts tels que les rayures, les marques de matrice, les bosses, les cloques ou les particules pouvant apparaître à la surface d'un fil, d'un câble ou d'un tube lors du processus de fabrication.
CERSA a développé un banc d'essai pour l'utilisation hors ligne de notre SQM-F. L'objectif est de fixer les échantillons (de 15 µm à 2000 µm) de manière rectiligne et centrée dans l'instrument de mesure. Le déplacement linéaire est manuel et offre une amplitude suffisante pour caractériser un échantillon de surface d'environ 500 mm de long. Un logiciel PC fournit les outils nécessaires à l'affichage et à l'analyse de l'image de la surface du produit.
Applications :
- Contrôle qualité par vérification de l'aspect de surface des échantillons de fil
- Contrôle indirect de l'effet de la filière par analyse du fil étiré
- Inspection à réception (contrôle qualité)
Types de fils :
- Fils métalliques à surface réfléchissante (acier, cuivre, or, argent, iridium, titane, etc.)
- Fils émaillés, fils revêtus
- Tubes médicaux
Instruments composant cette solution
WST - SQMF : banc d'essai
Un outil spécialement conçu pour le SQM-F permet de manipuler facilement les échantillons. CERSA a développé un banc d'essai pour utiliser notre SQM-F hors ligne. L'objectif est de fixer des échantillons (de 15 µm à 2000 µm) de manière droite et centrée dans l'instrument de mesure. Le déplacement linéaire est manuel et offre une amplitude suffisante pour caractériser un échantillon de surface d'environ 500 mm de long
SQMF
Le SQMF offre une détection de défauts de surface haute résolution et en temps réel sur les fils, câbles et tubes fins, avec 128 pixels par circonférence et 200 000 images par seconde. L'image du défaut est affichée sur le logiciel CIM pour l'analyse et la caractérisation par le client. La résolution linéaire minimale est de 18 µm. La surface est couverte à 100 %. Sa fréquence de mesure élevée permet de caractériser en continu et en temps réel les défauts les plus fins et d'afficher leurs images sur votre PC. Un partenaire idéal pour les appareils de mesure de diamètre tels que les instruments LDS et DLN de CERSA.
Notre solution logicielle pour la mesure d'échantillons de surface
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Logiciel WIRE360
Logiciel développé par les ingénieurs de CERSA pour fournir tous les outils nécessaires à l'exploitation de la solution WIRE360.
Notre logiciel offre des fonctionnalités complètes pour l'affichage de l'image de la surface de l'échantillon, le réglage des paramètres de détection et d'affichage des défauts, ainsi que l'enregistrement des données afin d'optimiser l'utilisation du SQM-F hors ligne.
Il est fourni avec la solution WIRE360.
Nos accessoires dédiés
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