Analyse de la surface hors ligne : pour quel but ?
La demande d'une production plus rapide et de dimensions plus petites, du zéro défaut et des économies de matériaux, a conduit CERSA à développer une nouvelle jauge haute performance. Notre jauge SQMF est conçue pour détecter les défauts tels que les rayures, les marques de matrice, les bosses, les cloques ou les particules qui peuvent apparaître à la surface d'un fil/câble/tube pendant le processus de fabrication.
CERSA a développé un banc pour utiliser notre SQMF hors ligne. Le but est de fixer des échantillons (de 15µm à 2000µm) horizontalement et centrés dans l'instrument de mesure. Le déplacement linéaire est manuel et fournit suffisamment de mouvement pour caractériser la surface d'un échantillon d'environ 500 mm de long. Un logiciel PC fournit des outils d'affichage et d'analyse de l'image de la surface du fil/tube analysé.
Applications :
- Contrôle qualité en vérifiant l'apparence de la surface de l'échantillon de fil
- Vérification indirecte de la qualité de la filière par analyse du fil tréfilé
- Inspection à la réception (contrôle qualité)
Types de fils :
- Fils métalliques à surfaces réfléchissantes (acier, cuivre, or, argent, iridium, titane, etc.)
- Fils émaillés, fils enduits
- Tubes médicaux
Instruments composant cette solution
WST - SQMF : banc de tests
Un outil spécialement conçu pour le SQMF pour manipuler facilement les échantillons. CERSA a développé un banc de test pour utiliser son SQMF hors ligne. Le but est de fixer des échantillons (de 15µm à 2000µm) horizontaux et centrés dans l'instrument de mesure. Le déplacement linéaire est manuel et permet un mouvement suffisant pour caractériser la surface d'un échantillon d'environ 500 mm de long.
SQMF
Le SQMF offre une détection haute résolution et en temps réel des défauts de surface sur les fils fins, les câbles et les tubes avec 128 pixels par circonférence et 200 000 images par seconde. L'image du défaut est affichée sur le logiciel CIM pour l'analyse et la caractérisation du client. La résolution linéaire minimale est de 18 μm. 100% de la surface est couverte. Sa cadence de mesure élevée permet de caractériser en continu et en temps réel les défauts fins et d'afficher leurs images sur votre PC. Un partenaire idéal pour les appareils de mesure de diamètre tels que les instruments LDS et DLN de CERSA.
Notre logiciel pour la mesure d'échantillons de surface
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Logiciel WIRE360
Logiciel développé par les ingénieurs CERSA pour fournir tous les outils nécessaires pour profiter de la solution WIRE360.
Notre logiciel offre des fonctions complètes pour afficher l'image de la surface de l'échantillon, pour jouer avec les paramètres de détection et l'affichage des défauts, et pour enregistrer les données afin de tirer le meilleur parti du SQMF hors ligne.
Fourni sous forme de package avec la solution WIRE360.
Nos accessoires dédiés
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